「Galaxy Note 7の爆発事件、原因は筐体の隙間不足？」記事へのコメント

まとめると

[nemui4 (20313)]

機能性重視の安全設計ミス

ってことすかね。

>しかしGalaxy Note 7ではバッテリの大容量化や筐体の小型化を追求したためかこの隙間がほとんどなく、そのため膨張したバッテリに物理的に圧力がかかり、電極が接触して過熱・炎上したのではないかという。

QC,QA部門はあんまり口を出していなかったのかな。

Re:まとめると

[Anonymous Coward]

ココのスキマ、お埋めします…ドーン!!!!
という声が脳内再生された。

Re:

[Anonymous Coward]

> 機能性重視の安全設計ミス
　
いえ。「隙きのない設計」が仇となったということでしょう。

Re:まとめると

[nemui4 (20313)]

iPhone設計時
技術者がこれ以上小さく軽く出来ないと言われたジョブズがiPhoneを水槽に沈め
出てきた気泡を示して「まだ空間があるだろ」と言ったとか言わなかった
とかいうまことしやかな逸話の噂を思い出した。

Re:まとめると

[Anonymous Coward]

試作品を二階から放り投げて壊れてないか見てこいって言った任天堂組長の逸話の派生に見える・・・

Re:

[Anonymous Coward]

それはiPod

Re:

[Anonymous Coward]

それ、はるか昔にウォークマンの逸話として聞きましたが、
源流はどこなんでしょうね

Re:

[Anonymous Coward]

起源の話をするとヤツらが・・・

Re:

[Anonymous Coward]

なんにもない　なんにもない　全く隙間がない♪

# それはやつらの足音のバラード

Re:

[Anonymous Coward]

やはり記憶違いじゃなかった
こんなサイトを発見
http://blogs.yahoo.co.jp/handh21jp/55282289.html

Re:

[Anonymous Coward]

昔、日経エレクトロニクスで読んだ話だと、VAIO505の開発者曰く、

「ウォークマンの設計部隊の人から見るとVAIOはまだ隙間だらけ。
水に放り込んだときに出てくる泡を見てこんなに隙間があると指摘してくる」

というもの。

実際にVAIOがウォークマン部隊の人によって水没させられたか
どうだかは忘れた。

Re:

[Anonymous Coward]

自分が聞いたのはハンディカムの開発でという話だった。

Re:

[Anonymous Coward]

SONYが一番輝いていたころか... 懐かしすぎる

暫定1位：ソニー盛田氏逸話説

[Anonymous Coward]

少なくともiPodが開発される前からそソニー盛田会長の逸話として語り継がれていたようなので、ジョブズか、もしくは信者がネタをパクったというのはほぼ確定。

Re:

[Anonymous Coward]

ばあさんや、samsungが原因調査した結果はまだ見せてもらえないのかいの。

Re:

[Anonymous Coward]

>QC,QA部門はあんまり口を出していなかったのかな。

サムスンのロジック半導体部門は不具合解析も外注してるそうです。
その方針からすると民生品部門も多分そうなのではないかと。
それにより金さえあれば売ってる中で一番いい技術が使える上に社内にそんな重たいもの持たなくて良い、と言うのがサムスンの成長の原動力だったのではないかと思います。
こういった場合に外から言われるまで自分たちでは何も分からないと言うことになりますが。

#どこぞのTegra3搭載の欠陥機は自社でこれもう無理って判断したんでしたっけ?