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同じサイズのバルクとFD-SOIだとどれくらい違うのか知りたいな。宇宙放射線は大気にぶつかると減衰しますが、高度が高いほど数が増えますし、宇宙機界隈ではSOIは宇宙放射線につぇぇというのが経験則で分かってますので。
日本だとそのあたりの実験はASNAROやSERVISでやってはいるんでしょうが。
宇宙線由来のソフトエラーは太古の昔から有名だったよねっ。
宇宙放射線って言えばよかったんじゃね?
子どものころに読んだ本に、宇宙には「うちゅうせん」や「うちゅうじん」がとびかってるので危険だということが載ってました。
> 宇宙線でビットが...という可能性もあるそうですまぁ、そうですよね。
以前某社のサポート部隊が「エラーの原因はサーバーのそばで携帯電話を使ったためです」と回答したとかで、それ以後、その某社のプロジェクトでは全て、マシン室内で携帯電話を使うなと言う通達が出たという事実がありまして・・・SEの間では、「宇宙線のせいだよな」、「え?電話?そりゃ基板にアンテナを触れさせてやればともかくねぇ・・・」という話で、本気にしている人は居ませんでしたが。# セキュリティ面での話ではなく、明確に「エラー防止のため」と言われたので間違いありません。
半導体の信頼性の部門では常識ですね。(*°∀°)=3
これ見たわー、1984年くらいに見たわー
LSIに対する宇宙線の脅威とDSN 2008に見る対策の最前線http://news.mynavi.jp/articles/2008/08/22/dsn/ [mynavi.jp]
> これに続いて、1984年にIBMによって、米国のロスアラモス研究所などの2000m以上の> 高地に設置されたコンピュータのキャッシュSRAMのエラー頻度が高いことが発見された。
現代の製品でどの程度のエラー発生率か、という程度には意義があるのでは
中性子線,アルファ線の影響を130nm-65nm-40nmのSRAMで比較したのが2012年にあるのですけどね。【IRPS 2012レポート】 [impress.co.jp]複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー
40nmのCMOS技術で製造したSRAMのソフトエラーを実測した結果を、フランスのAix-Marseille UniversityとSTMicroelectronicsによる共同研究チームがIRPS 2012で発表した(J.L.Autranほか、講演番号3C.5)。この共同研究チームは過去に130nmのCMOS技術によるSRAMと65nm技術によるSRAMのソフトエラーもASTEPで測定しており、3世代のCMOS技術によるSRAMの実測データを比較検討した。
ラック上部の方がエラー発生率が高かったなんて書いてるんだから上空からの放射線シングルイベントてことは明白だね。
いやむしろそっちは熱の影響の方が大きいんじゃないかな。
> これに続いて、1984年にIBMによって、米国のロスアラモス研究所などの2000m以上の> 高地に設置されたコンピュータのキャッシュSRAMのエラー頻度が高いことが発見された。月刊ASCIIでも特集されてたなぁ、PC8001が表紙の号だったような?とおもったら、ASCIIの記事はDRAMのだった
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同じサイズのバルクとFD-SOIだとどれくらい違うのか知りたいな。
宇宙放射線は大気にぶつかると減衰しますが、高度が高いほど数が増えますし、
宇宙機界隈ではSOIは宇宙放射線につぇぇというのが経験則で分かってますので。
日本だとそのあたりの実験はASNAROやSERVISでやってはいるんでしょうが。
Re:比較対象が欲しかった (スコア:0)
宇宙線由来のソフトエラーは太古の昔から有名だったよねっ。
Re:比較対象が欲しかった (スコア:5, おもしろおかしい)
宇宙線でビットが...という可能性もあるそうです
と説明したときに
エイリアンが攻めてきたってのか?
と、"宇宙船"ととられたようでした
こちらの説明も悪かったんでしょうけど
Re: (スコア:0)
宇宙放射線って言えばよかったんじゃね?
Re: (スコア:0)
子どものころに読んだ本に、
宇宙には「うちゅうせん」や「うちゅうじん」がとびかってるので危険だということが載ってました。
Re: (スコア:0)
> 宇宙線でビットが...という可能性もあるそうです
まぁ、そうですよね。
以前某社のサポート部隊が「エラーの原因はサーバーのそばで携帯電話を使ったためです」と回答したとかで、それ以後、その某社のプロジェクトでは全て、マシン室内で携帯電話を使うなと言う通達が出たという事実がありまして・・・
SEの間では、「宇宙線のせいだよな」、「え?電話?そりゃ基板にアンテナを触れさせてやればともかくねぇ・・・」という話で、本気にしている人は居ませんでしたが。
# セキュリティ面での話ではなく、明確に「エラー防止のため」と言われたので間違いありません。
Re: (スコア:0)
半導体の信頼性の部門では常識ですね。(*°∀°)=3
Re: (スコア:0)
これ見たわー、1984年くらいに見たわー
LSIに対する宇宙線の脅威とDSN 2008に見る対策の最前線
http://news.mynavi.jp/articles/2008/08/22/dsn/ [mynavi.jp]
> これに続いて、1984年にIBMによって、米国のロスアラモス研究所などの2000m以上の
> 高地に設置されたコンピュータのキャッシュSRAMのエラー頻度が高いことが発見された。
Re:比較対象が欲しかった (スコア:1)
現代の製品でどの程度のエラー発生率か、という程度には意義があるのでは
Re:比較対象が欲しかった (スコア:1)
中性子線,アルファ線の影響を130nm-65nm-40nmのSRAMで比較したのが2012年にあるのですけどね。
【IRPS 2012レポート】 [impress.co.jp]
複雑な様相を呈する最先端SRAMのソフトエラー
40nmのCMOS技術で製造したSRAMのソフトエラーを実測した結果を、フランスのAix-Marseille UniversityとSTMicroelectronicsによる共同研究チームがIRPS 2012で発表した(J.L.Autranほか、講演番号3C.5)。この共同研究チームは過去に130nmのCMOS技術によるSRAMと65nm技術によるSRAMのソフトエラーもASTEPで測定しており、3世代のCMOS技術によるSRAMの実測データを比較検討した。
Re:比較対象が欲しかった (スコア:1)
ラック上部の方がエラー発生率が高かったなんて書いてるんだから上空からの放射線シングルイベントてことは明白だね。
the.ACount
Re: (スコア:0)
いやむしろそっちは熱の影響の方が大きいんじゃないかな。
Re: (スコア:0)
> これに続いて、1984年にIBMによって、米国のロスアラモス研究所などの2000m以上の
> 高地に設置されたコンピュータのキャッシュSRAMのエラー頻度が高いことが発見された。
月刊ASCIIでも特集されてたなぁ、PC8001が表紙の号だったような?
とおもったら、ASCIIの記事はDRAMのだった