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単体のデバイスとしてはフラッシュメモリ、PROMのたぐいは完全に消去された状態で出荷・販売されているが、メモリカード/USBメモリのたぐいはどうなんだろう?選別・検査工程の最後では管理領域をクリアするだけで、実際にデータを記録する領域はテストデータ等が残ったままになってる可能性があるのでは?(その方が丸ごとチップイレースかけるよりも、いくらかはテストタイムを短縮出来るはず)
フラッシュの性質上、未使用領域は「電気的に」クリアされている必要がある。
で、トンネル効果を利用した電荷移動での総移動速度は、移動可能な電荷数が多い方が速い。(トンネル効果は確率事象なのを理解するべし)SLCでは、移動可能な電荷を常時供給する「蓄積」の方が、絶縁電極内の電荷数しか移動可能でない「放電」よりも高速なので、書き込みには「蓄積」を使い、消去には「放電」を使う。出荷時は、未使用領域を消去して置かないと、即座に書き込めないから、記録領域は全放電されていると考えるの自然。ちなみに、1,0は、トランジスタ一組で反転出来るから、便宜上の設定値に過ぎない。
MLCでは、蓄積電荷数を制御する必要から、書き込みと消去では速度に殆ど差は無い。が、追加で蓄積することは可能でも、部分的に放電する事は現状出来ないから、やはり、出荷時の未使用領域は全域放電されていると見るべき。
尚、将来、「高速放電」可能な新技術が可能になれば、消去と書き込みの速度が逆転するだろうが、それならば、まずSLCの消去速度が高速化される筈なので、現時点ではまだ存在していないと推測出来る。
で、結論として、出荷時の記録領域は、未使用領域なので、放電状態で出荷されていると見るのが妥当。
テストで読み書きはするだろうからどっちに寄ってるのかはわからんと思う
メモリーカードはわからないけどNANDーFLASH で言うなら、初期化はFフィルですね。SDカード内蔵してる端末もありますが、NAND実装して、使ってる場合はストレージフォーマット時で、ほとんどFフィルされますよ。
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私は悩みをリストアップし始めたが、そのあまりの長さにいやけがさし、何も考えないことにした。-- Robert C. Pike
フラッシュメモリの初期状態は? (スコア:0)
単体のデバイスとしてはフラッシュメモリ、PROMのたぐいは完全に消去された状態で出荷・販売されているが、メモリカード/USBメモリのたぐいはどうなんだろう?
選別・検査工程の最後では管理領域をクリアするだけで、実際にデータを記録する領域はテストデータ等が残ったままになってる可能性があるのでは?
(その方が丸ごとチップイレースかけるよりも、いくらかはテストタイムを短縮出来るはず)
Re:フラッシュメモリの初期状態は? (スコア:2)
フラッシュの性質上、未使用領域は「電気的に」クリアされている必要がある。
で、トンネル効果を利用した電荷移動での総移動速度は、移動可能な電荷数が多い方が速い。(トンネル効果は確率事象なのを理解するべし)
SLCでは、移動可能な電荷を常時供給する「蓄積」の方が、絶縁電極内の電荷数しか移動可能でない「放電」よりも高速なので、書き込みには「蓄積」を使い、消去には「放電」を使う。
出荷時は、未使用領域を消去して置かないと、即座に書き込めないから、記録領域は全放電されていると考えるの自然。
ちなみに、1,0は、トランジスタ一組で反転出来るから、便宜上の設定値に過ぎない。
MLCでは、蓄積電荷数を制御する必要から、書き込みと消去では速度に殆ど差は無い。
が、追加で蓄積することは可能でも、部分的に放電する事は現状出来ないから、やはり、出荷時の未使用領域は全域放電されていると見るべき。
尚、将来、「高速放電」可能な新技術が可能になれば、消去と書き込みの速度が逆転するだろうが、それならば、まずSLCの消去速度が高速化される筈なので、現時点ではまだ存在していないと推測出来る。
で、結論として、出荷時の記録領域は、未使用領域なので、放電状態で出荷されていると見るのが妥当。
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Re: (スコア:0)
テストで読み書きはするだろうからどっちに寄ってるのかはわからんと思う
Re: (スコア:0)
メモリーカードはわからないけど
NANDーFLASH で言うなら、初期化はFフィルですね。
SDカード内蔵してる端末もありますが、NAND実装して、使ってる場合はストレージフォーマット時で、ほとんどFフィルされますよ。