アカウント名:
パスワード:
このCMOSセンサーは202x205m
と見えてしまい何事かと思った。普通なら元になるシリコン基板のサイズから考えられないのだが、シリコンウェハース自体を超巨大に生成する技術かとおもってしまった。
せっかく㎜があるのだから使ってもよいのじゃなかろかと思った唯一の例かも
#微細化は物理的な限度があるけどメニーコアで巨大なチップが作られる方向の話とかみるにつけ基盤サイズはでかくなる事は予想されるけどさ。
チップサイズの上限は、レンズで決まります。ウェハサイズは関係ありません。あと、上の方で「円形で良いじゃなイカ」と言っていますが、最近の露光機はスッテパじゃなくてスキャナなんで、ギリギリまで使うなら楕円になると思います。
＞チップサイズの上限は、レンズで決まります。ウェハサイズは関係ありません。
じゃあなんでこのセンサーの大きさが“12インチウエハーから製造できる最大級のもの”なんでしょう？
んだな。ウエハーより大きなセンサは作れない。だから上限はウェハサイズで決まる。
(12 * 2.54) / √2 = 21.55今回のサイズが202x205mmだからまさに限界ぎりぎりなんでしょう。これだけの面内均一性を保ってアナログなセンサを製造するのは難しそう。
まあ，できあがったセンサを貼り合わせればまた別だろうけど。（確か望遠鏡では結構あったような...）
で，もとの言ってる「レンズ」が，ステッパーのレンズのことか望遠鏡のレンズのことか，どっちなんでしょうか。
>これだけの面内均一性を保ってアナログなセンサを製造するのは難しそう。
このセンサは知りませんが、分光器用CCDとかの場合は校正しますね。同じ強度の光を順次違う場所に当てていって測定値が同じになるように補正をかける感じで。
当然感度の低いところに引きずられますが、まあそんなに大きな差はない（というかあまりに場所ごとに特性が異なるチップは不良品として捨てる）ので何とかなります。
で、どうしても高感度測定をしたい場合には受光用に使う場所を設定してそこだけ使用するオプションがあったりもする。（狭い領域を何度もずらしながら使うようなものなんで測定速度は落ちます）
小さいチップなら，不良の部分をすてればいいんです。うまくできた部分だけを使ったり，量産でなければおいしいところを選別すればいいだけです。
でも，この場合，すべてが欠陥無く無ければなりません。もし一つのウエハーから100個作ってみて，そのうち1個欠陥があるとすれば，99個の正常品が取れます。でも一つのウエハーから1個しかセンサーを取れない場合，その同じプロセスで製造したセンサーは欠陥品です。これ，結構すごいことです。（小さいサイズのセンサの歩留まりが限りなく100%に近いということ。）（それから，真ん中のチップが必ず性能がいいとは限らないです。）
プロセスルールがかなり大きいと思うので，そんなに難しくないのだろうか。
より多くのコメントがこの議論にあるかもしれませんが、JavaScriptが有効ではない環境を使用している場合、クラシックなコメントシステム(D1)に設定を変更する必要があります。
一つのことを行い、またそれをうまくやるプログラムを書け -- Malcolm Douglas McIlroy
表示横幅のせいで (スコア:0)
と見えてしまい何事かと思った。
普通なら元になるシリコン基板のサイズから考えられないのだが、シリコンウェハース自体を超巨大に生成する技術かとおもってしまった。
せっかく㎜があるのだから使ってもよいのじゃなかろかと思った唯一の例かも
#微細化は物理的な限度があるけどメニーコアで巨大なチップが作られる方向の話とかみるにつけ基盤サイズはでかくなる事は予想されるけどさ。
Re: (スコア:1)
チップサイズの上限は、レンズで決まります。ウェハサイズは関係ありません。
あと、上の方で「円形で良いじゃなイカ」と言っていますが、最近の露光機はスッテパじゃなくてスキャナなんで、
ギリギリまで使うなら楕円になると思います。
Re: (スコア:0)
＞チップサイズの上限は、レンズで決まります。ウェハサイズは関係ありません。
じゃあなんでこのセンサーの大きさが“12インチウエハーから製造できる最大級のもの”なんでしょう？
Re: (スコア:0)
んだな。ウエハーより大きなセンサは作れない。
だから上限はウェハサイズで決まる。
(12 * 2.54) / √2 = 21.55
今回のサイズが202x205mmだからまさに限界ぎりぎりなんでしょう。
これだけの面内均一性を保ってアナログなセンサを製造するのは難しそう。
まあ，できあがったセンサを貼り合わせればまた別だろうけど。
（確か望遠鏡では結構あったような...）
で，もとの言ってる「レンズ」が，ステッパーのレンズのことか望遠鏡のレンズのことか，どっちなんでしょうか。
Re:表示横幅のせいで (スコア:0)
>これだけの面内均一性を保ってアナログなセンサを製造するのは難しそう。
このセンサは知りませんが、分光器用CCDとかの場合は校正しますね。同じ強度の光を順次違う場所に当てていって測定値が同じになるように補正をかける感じで。
当然感度の低いところに引きずられますが、まあそんなに大きな差はない（というかあまりに場所ごとに特性が異なるチップは不良品として捨てる）ので何とかなります。
で、どうしても高感度測定をしたい場合には受光用に使う場所を設定してそこだけ使用するオプションがあったりもする。
（狭い領域を何度もずらしながら使うようなものなんで測定速度は落ちます）
Re: (スコア:0)
小さいチップなら，不良の部分をすてればいいんです。
うまくできた部分だけを使ったり，量産でなければおいしいところを選別すればいいだけです。
でも，この場合，すべてが欠陥無く無ければなりません。
もし一つのウエハーから100個作ってみて，そのうち1個欠陥があるとすれば，99個の正常品が取れます。
でも一つのウエハーから1個しかセンサーを取れない場合，その同じプロセスで製造したセンサーは欠陥品です。
これ，結構すごいことです。（小さいサイズのセンサの歩留まりが限りなく100%に近いということ。）
（それから，真ん中のチップが必ず性能がいいとは限らないです。）
プロセスルールがかなり大きいと思うので，そんなに難しくないのだろうか。