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おかしくない？ (スコア:4, すばらしい洞察)
今回のはあくまでも原子の移動に必要なエネルギーを測定したわけであって，
動かす手法を開発したわけではないんだし．
#手法自体は昔からある（ってもまあそっちもIBMが開発なんですが）ものですし．
タレこんだ人だって，IBMのプレスリリースを引いてくるんなら内容を読んでいる
（まさか読まずにreferenceとして入れているとは思いたくない）はずなのに，
なぜこういうタレこみになってしまっているのか疑問なんですが……
ついでに言うと (スコア:2, 参考になる)
>STM（走査型トンネル顕微鏡）を使って操作するってのが
とありますが，今回使用されているのはAFM（Atomic Force Microscope）で，STMとは
ある程度似てますが別物です．
#前者はtipと表面原子との間の原子間力（引力もしくは斥力）を一定にするように
#フィードバックをかけることで高さ方向の情報を得る，後者はある電圧を印加したときに
#tipと表面の間に流れるトンネル電流を一定にするようにフィードバックをかける．
#まあどちらもIBMが開発してますが．
Re:ついでに言うと (スコア:1, 参考になる)
高さ方向の情報を得るのは、光てこ方式か探針の振動の変化から。
フィードバックした結果、「高さを一定に保てる」とかならわかるけど、日本語がおかしいよ。
Re:ついでに言うと (スコア:1)
ありゃ，そうでしたっけ？
フィードバック量から高さ情報を得ていたような記憶が．
少なくともSTMの定電流モードではフィードバックをかけたピエゾ電圧から
高さ情報に変換してたと思ったんですよ．で，AFMも針の変位/共振周波数が
一定になるようにステージのピエゾを駆動して，その値からZに変換してた
ような気がしたんですが，違いましたっけ？
Re:ついでに言うと (スコア:1)
高さ情報(観察像)はZ軸ピエゾにかける制御信号に対応して得られるものだと思います。
Re: (スコア:0)
それとも得られる情報は高いか低いかだけであり、
値を得るには元と同じ原子間力が得られるまでフィードバック（探針の高さ調整）をかけて、
調整量をもって値とするしか無いんですか？
Re: (スコア:0)
これも言葉が足りてないから日本語が不満足。
AFMの高さってのの原点は、機器にもよるだろうけど、操作する人が適当に決めている位置。
まあ、勝手に調整してくれるやつもあるんだろうけど。
ピエゾ素子に電圧をかけてそこから壁面に移動させるわけで、壁面の検出には光てこか振動の変化で検出した変位が
ある程度変化するんか鋭く変化するかどっちか忘れたけど
その場所を壁面と検出するという感じだったはず。
ぐらいの意味。
あえて変位といっているのは、変位も高さ方向に出てしまうので、それも高さ情報にも影響するよーぐらいの意味。
高さ調節のためにピエゾに電圧をかけるんだから、情報を得るためにそこからってのは意味がわからんと思ったので。
Re: (スコア:0)
へー。
# 原理は知ってても誰が作ったかは知らなかった。